FLASH

A

Advion Interchim Naukowe systemy i materiały eksploatacyjne do wysokowydajnego oczyszczania LC i spektrometrii mas

Zestaw systemów i materiałów eksploatacyjnych Advion Interchim Scientific pozwala użytkownikom wykorzystać moc spektrometrii mas, chromatografii typu flash, preparatywnej LC i innych. Pobierz broszurę , aby dowiedzieć się więcej.

AIS-ITM-20240214-E-BrochureTheEssentialSystemsVersion2024 4971 kB

C

Compact Mass Spectrometry: A Complete Reaction Monitoring Solution

BIAŁY PAPIER

Sformułowanie Advion Compact Mass Spectrometer (CMS) odpowiada na potrzebę zrozumienia przez chemików organicznych i syntetycznych optymalnego czasu na ostudzenie mieszaniny reakcyjnej. CMS w pełni integruje się z najszerszą w branży gamą innowacyjnych technik pobierania próbek, umożliwiając chemikom uzyskanie odpowiedzi w ciągu kilku minut, a nawet sekund.

P

Puriflash XS-VAP

Twój parownik laboratoryjny XS-VAP

X-tra kompaktowy
X-tra intuicyjny
X-tra wydajny
Parowanie X-tra

T

The Essential Systems & Consumables for High Performance LC Purification

Ta broszura zawiera 2 nowe systemy do oczyszczania procesów: PuriFlash 535XL (w rzeczywistości jest to odpowiednik instrumentu XS520, ale o wyższych parametrach pod względem ciśnienia i przepływu: 35 barów i 400 ml/min ) oraz puriFlash 5015XL (ten zastępuje model 5007 przy wyższych wydajnościach: 15 bar i 825 ml/min ).

PuriFlash 535XL z maksymalnym natężeniem przepływu 400 ml/min pozwala na użycie kolumn F1600 (104 mmID) przy optymalnym natężeniu przepływu (383 ml/min)
Dzięki PuriFlash 5015XL oferujemy teraz kolumny Flash 3KG z materiałem C18 (50µm, 30µm)
Przy formacie kolumny 3KG , (150 mmID) możesz włożyć > do 3,5 KG C18

The Essential Systems & Consumables for HPLC Purification

Firma Interchim wydała nową broszurę dotyczącą chromatografii Flash — Podstawowe elementy i materiały eksploatacyjne do wysokowydajnego oczyszczania LC. Znajdziesz tu informacje o oprogramowaniu Genius SW, które oferuje:

Metoda transferu TLC do FLASH
Poprawa metody Genius
Konfiguracja metody optymalnych warunków błysku